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手機整機可靠性測試的試驗項目以及相關測試標準

返回列表 來源(yuan):劍喬儀器 瀏覽: 181 發布(bu)日期:2020-04-21

隨著科技的(de)(de)發展,手機(ji)更(geng)新換(huan)代的(de)(de)非常快,手機(ji)做為人(ren)(ren)們日常生活(huo)不可(ke)缺少的(de)(de)通信工具(ju),在向市(shi)場上大量出售前(qian),需(xu)要做整(zheng)機(ji)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi),以全方位保障手機(ji)的(de)(de)品質與人(ren)(ren)們的(de)(de)使用安全。那么手機(ji)整(zheng)機(ji)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi)需(xu)要做哪些項目呢?下面劍喬儀(yi)器小編(bian)為大家仔(zi)細講(jiang)解下手機(ji)整(zheng)機(ji)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi)的(de)(de)試(shi)驗項目以及相(xiang)關測(ce)試(shi)標準。

 

一(yi):手機整機環境(jing)可靠性測試

由于手機(ji)(ji)(ji)(ji)是(shi)移動設(she)備,這就(jiu)決定了它(ta)隨時會面臨冬天的嚴寒與(yu)(yu)靜電(dian),夏(xia)季(ji)的酷暑與(yu)(yu)潮濕,而高低溫(wen)環境(jing)測(ce)試(shi)就(jiu)是(shi)為了避(bi)免手機(ji)(ji)(ji)(ji)產生(sheng)嚴重失效現象(xiang)而進行的測(ce)試(shi)。最為容易想象(xiang)的就(jiu)是(shi)高低溫(wen)環境(jing)測(ce)試(shi),它(ta)會給予(yu)手機(ji)(ji)(ji)(ji)一個初始(shi)測(ce)試(shi)狀態如待機(ji)(ji)(ji)(ji)、關(guan)機(ji)(ji)(ji)(ji)或者充電(dian),定時檢查(cha)手機(ji)(ji)(ji)(ji)在測(ce)試(shi)中的狀況。

 

1)高低溫(wen)環境(jing)測試(shi)

高(gao)低溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)是(shi)高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)和(he)低溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)(de)的(de)(de)簡稱,試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)目(mu)的(de)(de)是(shi)評價高(gao)低溫條件對裝備在(zai)(zai)存儲和(he)工作(zuo)期間的(de)(de)性能影響。高(gao)低溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)條件、試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)實施(shi)、試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)步(bu)驟在(zai)(zai)GJB 150.3A一2009《軍(jun)用裝備試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)室環(huan)境試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)》與(yu)GJB 150.4A—2009《軍(jun)用裝備試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)室環(huan)境試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法低溫試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)》中都有詳(xiang)細(xi)的(de)(de)規定。

 

2)鹽霧測試

鹽霧箱(xiang)條件: 5+1%NaCl溶液, 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°;C,濕熱(re)箱(xiang)條件:+40+2°,93+3%RH,持續時間48H。

 

3)ESD測試

手(shou)機在接充電(dian)器和不接充電(dian)器的(de)情況下,分別測試(shi)手(shou)機在常用使用狀態(tai)(tai)下的(de)ESD 性(xing)能,待機和通話狀態(tai)(tai)是必須要測試(shi)的(de)狀態(tai)(tai)。 

接(jie)觸(chu)放電(dian)(dian)為±6KV,對裸露的(de)金屬(shu)件(如導電(dian)(dian)裝飾圈(quan)、裝飾牌不同的(de)位置)、水(shui)平(ping)耦合板、垂直耦合板連(lian)續放電(dian)(dian)各 10次(ci)后對地放電(dian)(dian),要求(qiu):LCD 顯示(shi)和(he)通話狀(zhuang)況應良好,應無數據丟失和(he)功能(neng)損壞(huai)等(deng);接(jie)觸(chu)放電(dian)(dian)每點每個測(ce)試(shi)電(dian)(dian)壓連(lian)續放電(dian)(dian) 10次(ci)(加嚴測(ce)試(shi)±20 次(ci))。 

空氣放(fang)電(dian)(dian)±10K,對(dui)翻蓋底(di)殼(ke)/面殼(ke)、大(da)小LCD四周、接縫、受話(hua)器、免提(ti)接口、I/O口、主(zhu)機(ji)按鍵及主(zhu)機(ji)底(di)殼(ke)等處進行放(fang)電(dian)(dian),被選點每(mei)點每(mei)個(ge)測試電(dian)(dian)壓放(fang)電(dian)(dian)10 次(加嚴測試±20 次),每(mei)放(fang)電(dian)(dian)一次需對(dui)地放(fang)電(dian)(dian),要求LCD顯示和通話(hua)狀(zhuang)況應良好,應無數據丟失和功能損壞。 

完成后作(zuo)好(hao)記錄。所需手(shou)機數為2 部。 

外(wai)置天線(xian) ESD 測(ce)試要(yao)求(qiu):天線(xian)電鍍裝飾要(yao)求(qiu)測(ce)試接觸放電±8KV,空氣放電&plusmn;15KV,不(bu)允(yun)許出現破壞(huai)性問(wen)題(出現重啟或重裝電池不(bu)可(ke)恢復(fu)的問(wen)題) 

參考標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁(ci)兼容試(shi)驗和測量技術靜電放電抗擾度試(shi)驗  

YD/T 1539-2006移動(dong)通信手持機可靠性技術要求和(he)測(ce)試方法(fa)。

 

4)極限溫(wen)度充電測試

5)溫升測試

 

二、手機整(zheng)機機械類可靠(kao)性測試

 

這類測(ce)試(shi)大多(duo)數(shu)屬于破壞性的(de)測(ce)試(shi),我們可以理解成測(ce)試(shi)產品(pin)的(de)一個極限(xian)狀態(tai)。簡(jian)單(dan)的(de)說就是看看產品(pin)的(de)可靠(kao)度(du)(du),比如10厘米的(de)微(wei)跌測(ce)試(shi),對手機的(de)正面和反面各微(wei)跌200次,手機LCD不能出現(xian)白(bai)點或者白(bai)斑,TP滑動功能全領域(yu)有效(xiao),如果測(ce)試(shi)通過我們認為該產品(pin)在這方面具備可靠(kao)度(du)(du)。

 

1)跌落(luo)測試

分(fen)定向跌(die)落(luo)、自(zi)由跌(die)落(luo)、重(zhong)復跌(die)落(luo)、滾筒跌(die)落(luo)四種跌(die)落(luo)方式。

試驗(yan)樣機(ji)插SIM 卡,并裝配電池,手機(ji)處于正(zheng)常工作(zuo)狀態。將樣品放置在垂(chui)直跌(die)落(luo)試驗(yan)儀(yi)上,將高度調(diao)到(dao) 1.0m ,進(jin)行(xing)(xing)(xing)垂(chui)直跌(die)落(luo)測(ce)試。每(mei)個面各測(ce) 2 次,共跌(die)落(luo)12 次。跌(die)落(luo)測(ce)試后,首先對樣品進(jin)行(xing)(xing)(xing)外(wai)觀、功能,結構檢(jian)測(ce),記錄測(ce)試狀態后,再進(jin)行(xing)(xing)(xing)拆機(ji)檢(jian)測(ce)。

試(shi)驗(yan)樣機(ji)(ji)(ji)(ji)插(cha)SIM 卡,并裝(zhuang)配(pei)電池,手機(ji)(ji)(ji)(ji)處(chu)于正(zheng)常工作狀態(tai)。 將樣品放置在 0.5m 的滾(gun)筒(tong)跌(die)落試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)(ji)(ji)中(zhong),進行(xing)(xing)跌(die)落測試(shi),每(mei) 50 次對(dui)手機(ji)(ji)(ji)(ji)的外(wai)觀,功能,結構做檢測,累計跌(die)落300 次循環。 測試(shi)完成(cheng)后,對(dui)手機(ji)(ji)(ji)(ji)進行(xing)(xing)功能,結構,裝(zhuang)配(pei)檢測(要求必須拆機(ji)(ji)(ji)(ji)檢查)。

 

2)軟壓測試

將手機正(zheng)面朝(chao)上,放置在支撐部件的(de)(de)(de)中心位置上,樣品(pin)處于開(kai)機狀態并鎖(suo)住鍵盤。彈性擠(ji)壓(ya)頭以 25kg 的(de)(de)(de)力(li)、每分鐘(zhong) 15~30 次(ci)的(de)(de)(de)頻率擠(ji)壓(ya)樣品(pin)中間(jian)部位1000次(ci),分別(bie)在400、600、800、1000 次(ci)進行外觀(guan)檢查(cha)和話音(yin)通信(xin)(xin)檢查(cha),外觀(guan)、功(gong)能應正(zheng)常,話音(yin)通信(xin)(xin)應能正(zheng)常進行。測試結(jie)束后(hou)進行功(gong)能、外觀(guan)及裝配檢測應無異常。

3)硬壓測試

4)小球沖擊

5)水波紋(wen)測試

6)USB/耳機接口推力測試(shi)

7)正弦振動測(ce)試

    振動頻率(lv): 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密(mi)度):0.96m2/S3 持續時(shi)間: 每方向(xiang)1小時(shi)(x,y,z三個方向(xiang))。 試驗(yan)過(guo)程中(zhong)檢(jian)查手機有無(wu)掉卡、關機等(deng)不良(liang)現象,測(ce)試結束后功能檢(jian)查應無(wu)異常(chang)。

8)沙塵實(shi)驗

9)包裝振(zhen)動

 

三(san)、手(shou)機(ji)整機(ji)壽命類測試

    實際研制過程中(zhong),壽命測(ce)試(shi)(shi)一般為加(jia)速壽命測(ce)試(shi)(shi),以便縮短(duan)測(ce)試(shi)(shi)周(zhou)期,降低生產成本,讓產品(pin)在短(duan)時間內盡可能(neng)暴露產品(pin)的(de)缺(que)陷,評估產品(pin)的(de)穩定(ding)性。

1)SIM/T卡/內存卡接入(ru)和拔出測試

    插(cha)入SIM 卡(ka)再取出,累計(ji)1000 次。每插(cha)拔50 次開機檢(jian)查(cha)一次,手(shou)機不能有不識卡(ka)現象,測試(shi)完(wan)畢手(shou)機功能應正常(chang)。

    插(cha)(cha)入內(nei)存(cun)卡(ka)再取(qu)出,累計(ji) 1000 次(ci)。不(bu)支(zhi)(zhi)持(chi)熱插(cha)(cha)拔(ba)的機(ji)型,每插(cha)(cha)拔(ba) 100 次(ci)開機(ji)檢(jian)(jian)查(cha)一次(ci),支(zhi)(zhi)持(chi)熱插(cha)(cha)拔(ba)的機(ji)型必(bi)須在開機(ji)狀態下測(ce)試(shi),每插(cha)(cha)拔(ba) 100 次(ci)檢(jian)(jian)查(cha)一次(ci),要(yao)求測(ce)試(shi)后存(cun)儲卡(ka)結構正常(不(bu)能(neng)破裂(lie)),手機(ji)無不(bu)識(shi)卡(ka)問題,內(nei)存(cun)卡(ka)中的內(nei)容不(bu)可丟失(shi)。

2)USBUSB/耳機接口接入和拔出測試

    將耳機垂(chui)直(zhi)(zhi)插入耳機孔后,再垂(chui)直(zhi)(zhi)拔出,如此(ci)反復,累計 3000 次。功能應正常(chang)。

插(cha)入數據線再(zai)拔(ba)下,累(lei)計3000次。每插(cha)拔(ba)100次開機(ji)檢查一次,手機(ji)功能應(ying)正常(chang)。

3)按鍵測(ce)試

    以 40~60 次(ci)(ci)(ci)(ci)/分鐘的速度(du),不小于 10N 的力度(du)均勻按鍵(jian),Dome:15 萬(wan)次(ci)(ci)(ci)(ci)以上;Switch:10 萬(wan)次(ci)(ci)(ci)(ci);多(duo)維導航鍵(jian):6 萬(wan)次(ci)(ci)(ci)(ci)。每2萬(wan)次(ci)(ci)(ci)(ci)檢查(cha)1次(ci)(ci)(ci)(ci)。Slide:1.5 萬(wan)次(ci)(ci)(ci)(ci);試驗后功能應正常(chang)。

4)觸摸(mo)屏點擊測試

    將(jiang)手機(ji)固(gu)定在點(dian)擊(ji)測試儀器上, 用固(gu)定在尖端的(de)(de)隨機(ji)手寫筆,加載 150g 的(de)(de)力(li),對觸摸屏點(dian)擊(ji)25 萬(wan)次(ci), 每5 萬(wan)次(ci)對屏幕(mu)進行檢查并(bing)清潔;手機(ji)處于待機(ji)狀態;測試完畢后,觸摸屏表面無損(sun)傷,功能正常。點(dian)擊(ji)速率:約1 次(ci)/秒

5)觸(chu)摸屏(ping)劃線測試

    將手機(ji)固定在劃(hua)線(xian)測(ce)試(shi)儀器(qi)上, 用(yong)手機(ji)自帶的手寫筆沿觸摸屏的對(dui)角線(xian)進行(xing)劃(hua)線(xian)測(ce)試(shi),劃(hua)線(xian)壓(ya)力為150g 力, 測(ce)試(shi)次(ci)數10 萬次(ci) (反復來回為 2 次(ci)),每(mei)1 萬次(ci)對(dui)觸摸屏功(gong)能(neng)、結構和外(wai)觀進行(xing)檢測(ce),并對(dui)觸摸屏進行(xing)清潔。測(ce)試(shi)結束后,觸摸屏功(gong)能(neng)應(ying)正常,外(wai)觀無損傷(劃(hua)痕(hen))。 (劃(hua)線(xian)速度:約30mm/秒)

6)聽筒壽命測試

&nbsp;   使用(yong)0.035W, PINK  20Hz-20KHz的120小時(shi)內無(wu)異常現象(xiang)。

7)馬達測試

8)揚聲器測試(shi)

9)受話(hua)器測試

 

四、手(shou)機整(zheng)機表面處理類測試

1)紙帶/羊毛(mao)氈(zhan)耐(nai)磨測試

    使用多功能耐磨(mo)(mo)儀(yi)器,羊毛氈,施加 1000g 的(de)力,在產品表面(mian)(有表面(mian)處理工藝)以 40 次(ci)/分(fen)鐘~60 次(ci)/分(fen)鐘的(de)速度,以 30mm 左右的(de)行(xing)程,在樣本表面(mian)來回磨(mo)(mo)擦,測試 2000 次(ci)(1000 個循(xun)環)后 觀察外觀。

2)硬(ying)度測試(shi)

    觸(chu)摸(mo)屏硬度測(ce)試,用三(san)菱牌(pai) 2H 鉛筆劃產品表面(mian),在 45°的(de)角度,以 500g的(de)力度在被測(ce)殼表面(mian)劃兩筆劃刻后(hou)用橡皮(pi)擦試后(hou)檢查應無明顯劃痕。

3)噴涂百格測試

4)耐醇性測試

5)化妝(zhuang)品測(ce)試

6)耐壓測試

7)振動耐磨測試。

 

五(wu)、手機整機三防測試(shi)

    區(qu)別于傳統的三防(fang)(fang)“防(fang)(fang)霉菌、防(fang)(fang)潮濕、防(fang)(fang)鹽霧”,手(shou)機整機的三防(fang)(fang)測試(shi)主要為防(fang)(fang)塵、防(fang)(fang)水、防(fang)(fang)跌落震(zhen)動測試(shi)。

    如防塵(chen)可靠(kao)性測試,將手(shou)機放置在粉塵(chen)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang)內, 樣品(pin)(pin)體積(ji)綜合不(bu)得超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang)有(you)效(xiao)空(kong)間的 1/3,底面積(ji)不(bu)得超過(guo)有(you)效(xiao)水平(ping)在積(ji)的 1/2;與實驗(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang)內壁距離應不(bu)小于(yu) 100mm。啟動粉塵(chen)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang),使氣流(liu)能夠將灰塵(chen)均(jun)勻緩慢(man)地沉降在試驗(yan)樣品(pin)(pin)上,最大值不(bu)得超過(guo) 2m/s。測試時間到(dao)后,將手(shou)機在粉塵(chen)箱(xiang)(xiang)(xiang)內靜(jing)置 2H,進行功能、外(wai)觀及(ji)裝配檢測。

 

六、 國(guo)內手機可靠性(xing)測(ce)試方面(mian)的主(zhu)要標準(zhun)

1)GB/T 15844.2-1995 移動通信(xin)調(diao)頻無(wu)線電話(hua)機環境(jing)要(yao)求(qiu)和(he)試(shi)驗方法。 

2)YD/T1215  900/1800MHz TDMA數字蜂窩移動一動通(tong)(tong)信網通(tong)(tong)用分組無限(xian)業(ye)務(wu)設備測試(shi)方(fang)法:移動臺(tai)。

3)GB/T 15844.3-1995 移動通信調(diao)頻無(wu)線電話機可靠性要求和試驗方法。 

4)YD/T 965-1998  電信終端設備的安(an)全要求(qiu)和試驗方法。 

5)YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數字900/1800MHz TDMA 數字蜂(feng)窩(wo)移動通信系統電(dian)磁兼容性限(xian)值和測量方(fang)法  第一部分:移動臺及其(qi)輔助設備。

 

對手(shou)機(ji)整機(ji)進(jin)行(xing)可靠性測試,需要(yao)對測試過程的失(shi)效(xiao)現(xian)象進(jin)行(xing)分析,因此在測試過程中應把(ba)手(shou)機(ji)的失(shi)效(xiao)現(xian)象準確詳細(xi)的描述出來十分重要(yao),從而(er)才能(neng)便于后續分析、改進(jin)設計,為提高手(shou)機(ji)可靠性、耐久性。更多詳細(xi)資料歡迎咨詢(xun)廣東劍(jian)喬(qiao)(qiao)【劍(jian)喬(qiao)(qiao)儀器】廠(chang)家 官網:ndotocollection.com 

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